4解決方案
高低溫沖擊試驗
LED光電的可靠性和壽命驗證方法一方面借助于光電儀表和環(huán)境測試設備進行這方面的測試，另一方面通過燈具工作模型用失效率系數(shù)來估算其壽命。
LED相關的可靠性試驗規(guī)范
1.0 目的
建立實驗室可靠性測試的標準與規(guī)范，完善產品測試標準，提高產品質量。
2.0 適用范圍
本標準適用于模組類、柔性燈帶類以及直條燈類成品可靠性測試。
3.0 內容
3.1 測試項目
成品可靠性測試包含但不限于以下項目，在提交測試過程中根據(jù)實際情況在測試單中注明需要執(zhí)行的測試項目。
o 基礎參數(shù)測試：產品的基本參數(shù)；
o 環(huán)境測試：溫度循環(huán)、冷熱沖擊、高濕熱循環(huán)、高溫存儲、低溫存儲、高溫高濕儲存、抗UV測試；
o 壽命測試：常規(guī)衰減測試、高溫高濕壽命測試、低溫衰減測試、加速衰減測試、規(guī)定焊點溫度下衰減測試；
o 破壞性測試：通斷電測試、過壓/欠壓測試、IP防護等級測試、輸入輸出短路測試、導線連接處抗拉力測試、燈帶彎折性測試、極性保護測試、耐酸性測試、鹽霧試驗、靜電測試；
o 機械測試：振動測試、堆碼測試、跌落測試。
LED相關的可靠性試驗規(guī)范
1.0 目的
建立實驗室可靠性測試的標準與規(guī)范，完善產品測試標準，提高產品質量。
2.0 適用范圍
本標準適用于模組類、柔性燈帶類以及直條燈類成品可靠性測試。
3.0 內容
3.1 測試項目
成品可靠性測試包含但不限于以下項目，在提交測試過程中根據(jù)實際情況在測試單中注明需要執(zhí)行的測試項目。
o 基礎參數(shù)測試：產品的基本參數(shù)；
o 環(huán)境測試：溫度循環(huán)、冷熱沖擊、高濕熱循環(huán)、高溫存儲、低溫存儲、高溫高濕儲存、抗UV測試；
o 壽命測試：常規(guī)衰減測試、高溫高濕壽命測試、低溫衰減測試、加速衰減測試、規(guī)定焊點溫度下衰減測試；
o 破壞性測試：通斷電測試、過壓/欠壓測試、IP防護等級測試、輸入輸出短路測試、導線連接處抗拉力測試、燈帶彎折性測試、極性保護測試、耐酸性測試、鹽霧試驗、靜電測試；
o 機械測試：振動測試、堆碼測試、跌落測試。