4解決方案
高低溫沖擊試驗(yàn)
LED光電的可靠性和壽命驗(yàn)證方法一方面借助于光電儀表和環(huán)境測(cè)試設(shè)備進(jìn)行這方面的測(cè)試，另一方面通過(guò)燈具工作模型用失效率系數(shù)來(lái)估算其壽命。
LED相關(guān)的可靠性試驗(yàn)規(guī)范
1.0 目的
建立實(shí)驗(yàn)室可靠性測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范，完善產(chǎn)品測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，提高產(chǎn)品質(zhì)量。
2.0 適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)適用于模組類、柔性燈帶類以及直條燈類成品可靠性測(cè)試。
3.0 內(nèi)容
3.1 測(cè)試項(xiàng)目
成品可靠性測(cè)試包含但不限于以下項(xiàng)目，在提交測(cè)試過(guò)程中根據(jù)實(shí)際情況在測(cè)試單中注明需要執(zhí)行的測(cè)試項(xiàng)目。
o 基礎(chǔ)參數(shù)測(cè)試：產(chǎn)品的基本參數(shù)；
o 環(huán)境測(cè)試：溫度循環(huán)、冷熱沖擊、高濕熱循環(huán)、高溫存儲(chǔ)、低溫存儲(chǔ)、高溫高濕儲(chǔ)存、抗UV測(cè)試；
o 壽命測(cè)試：常規(guī)衰減測(cè)試、高溫高濕壽命測(cè)試、低溫衰減測(cè)試、加速衰減測(cè)試、規(guī)定焊點(diǎn)溫度下衰減測(cè)試；
o 破壞性測(cè)試：通斷電測(cè)試、過(guò)壓/欠壓測(cè)試、IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試、輸入輸出短路測(cè)試、導(dǎo)線連接處抗拉力測(cè)試、燈帶彎折性測(cè)試、極性保護(hù)測(cè)試、耐酸性測(cè)試、鹽霧試驗(yàn)、靜電測(cè)試；
o 機(jī)械測(cè)試：振動(dòng)測(cè)試、堆碼測(cè)試、跌落測(cè)試。
LED相關(guān)的可靠性試驗(yàn)規(guī)范
1.0 目的
建立實(shí)驗(yàn)室可靠性測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范，完善產(chǎn)品測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，提高產(chǎn)品質(zhì)量。
2.0 適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)適用于模組類、柔性燈帶類以及直條燈類成品可靠性測(cè)試。
3.0 內(nèi)容
3.1 測(cè)試項(xiàng)目
成品可靠性測(cè)試包含但不限于以下項(xiàng)目，在提交測(cè)試過(guò)程中根據(jù)實(shí)際情況在測(cè)試單中注明需要執(zhí)行的測(cè)試項(xiàng)目。
o 基礎(chǔ)參數(shù)測(cè)試：產(chǎn)品的基本參數(shù)；
o 環(huán)境測(cè)試：溫度循環(huán)、冷熱沖擊、高濕熱循環(huán)、高溫存儲(chǔ)、低溫存儲(chǔ)、高溫高濕儲(chǔ)存、抗UV測(cè)試；
o 壽命測(cè)試：常規(guī)衰減測(cè)試、高溫高濕壽命測(cè)試、低溫衰減測(cè)試、加速衰減測(cè)試、規(guī)定焊點(diǎn)溫度下衰減測(cè)試；
o 破壞性測(cè)試：通斷電測(cè)試、過(guò)壓/欠壓測(cè)試、IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試、輸入輸出短路測(cè)試、導(dǎo)線連接處抗拉力測(cè)試、燈帶彎折性測(cè)試、極性保護(hù)測(cè)試、耐酸性測(cè)試、鹽霧試驗(yàn)、靜電測(cè)試；
o 機(jī)械測(cè)試：振動(dòng)測(cè)試、堆碼測(cè)試、跌落測(cè)試。