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高低溫沖擊試驗(yàn)

返回列表 來(lái)源:偉煌科技 瀏覽: 2345 發(fā)布日期:2016-07-08

  LED光電的可靠性和壽命驗(yàn)證方法一方面借助于光電儀表和環(huán)境測(cè)試設(shè)備進(jìn)行這方面的測(cè)試,另一方面通過(guò)燈具工作模型用失效率系數(shù)來(lái)估算其壽命。
  LED相關(guān)的可靠性試驗(yàn)規(guī)范
  1.0 目的
  建立實(shí)驗(yàn)室可靠性測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范,完善產(chǎn)品測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),提高產(chǎn)品質(zhì)量。
  2.0 適用范圍
  本標(biāo)準(zhǔn)適用于模組類、柔性燈帶類以及直條燈類成品可靠性測(cè)試。
  3.0 內(nèi)容
  3.1 測(cè)試項(xiàng)目
  成品可靠性測(cè)試包含但不限于以下項(xiàng)目,在提交測(cè)試過(guò)程中根據(jù)實(shí)際情況在測(cè)試單中注明需要執(zhí)行的測(cè)試項(xiàng)目。
  o 基礎(chǔ)參數(shù)測(cè)試:產(chǎn)品的基本參數(shù);
  o 環(huán)境測(cè)試:溫度循環(huán)、冷熱沖擊、高濕熱循環(huán)、高溫存儲(chǔ)、低溫存儲(chǔ)、高溫高濕儲(chǔ)存、抗UV測(cè)試;
  o 壽命測(cè)試:常規(guī)衰減測(cè)試、高溫高濕壽命測(cè)試、低溫衰減測(cè)試、加速衰減測(cè)試、規(guī)定焊點(diǎn)溫度下衰減測(cè)試;
  o 破壞性測(cè)試:通斷電測(cè)試、過(guò)壓/欠壓測(cè)試、IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試、輸入輸出短路測(cè)試、導(dǎo)線連接處抗拉力測(cè)試、燈帶彎折性測(cè)試、極性保護(hù)測(cè)試、耐酸性測(cè)試、鹽霧試驗(yàn)、靜電測(cè)試;
  o 機(jī)械測(cè)試:振動(dòng)測(cè)試、堆碼測(cè)試、跌落測(cè)試。
  3.2 測(cè)試要求

類別

試驗(yàn)
項(xiàng)目

試驗(yàn)設(shè)備

試驗(yàn)條件

持續(xù)時(shí)間

樣品數(shù)量

測(cè)試部門

基礎(chǔ)參數(shù)

電流/功率/光通量/顯色指數(shù)/色溫/壓降和電流差/配光曲線  

電源
積分球
萬(wàn)用表

室溫下,產(chǎn)品在標(biāo)配情況下點(diǎn)亮測(cè)試。
主要測(cè)試參數(shù)有:?jiǎn)蝹€(gè)成品的電流、功率、光通量、顯色指數(shù)、色溫、產(chǎn)品級(jí)聯(lián)后的的壓降和首尾電流差。產(chǎn)品配光曲線圖(必要時(shí))

 

兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)級(jí)聯(lián)單位的成品

質(zhì)保中心實(shí)驗(yàn)室

環(huán)境試驗(yàn)

溫度循環(huán)

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱

-40℃~25℃~100℃~25℃
30分鐘 5分鐘 30分鐘 5分鐘

循環(huán)100回合

5pcs/0.5m/<0.6m

冷熱沖擊

-40-70
15分鐘  15分鐘

循環(huán)150回合

5pcs/0.5m/<0.6m

高濕熱循環(huán)

30℃~65℃
RH=90%  24小時(shí)/1回合

72h

5pcs
0.5m/<0.6m

高溫存儲(chǔ)

Ta=80℃

168h

5pcs/0.5m/<0.6m

低溫存儲(chǔ)

Ta=-40℃

168h

5pcs/0.5m/<0.6m

高溫高濕存儲(chǔ)

Ta=70℃ RH=90%

168h

5pcs/0.5m/<0.6m

抗UV測(cè)試

紫外線燈箱

用強(qiáng)紫外線直接照射被測(cè)試件表面,加速表面的老化。試驗(yàn)后,要求成品各部件顏色不能出現(xiàn)明顯變色,材料不能出現(xiàn)機(jī)械損傷。

24h

5pcs/0.5m/<0.6m

壽命試驗(yàn)

常溫衰減壽測(cè)試

照度計(jì)/光電測(cè)試儀

Ta=25℃
標(biāo)準(zhǔn)配置、額定電壓下點(diǎn)亮
(注:此項(xiàng)目適用于中、小功率LED產(chǎn)品)

1000小時(shí)

3個(gè)成品單位

研發(fā)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室

高溫高濕壽命試驗(yàn)

照度計(jì)/光電測(cè)試儀/高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱/烤箱

Ta=70℃ RH=90%
標(biāo)準(zhǔn)配置、額定電壓下點(diǎn)亮

168小時(shí)

5pcs/0.5m/<0.6m

低溫壽命試驗(yàn)

Ta=-30℃
標(biāo)準(zhǔn)配置、額定電壓下點(diǎn)亮

168小時(shí)

5pcs/0.5m/<0.6m

規(guī)定焊點(diǎn)溫度下衰減測(cè)試

測(cè)試在焊點(diǎn)處溫度Ts=55℃/85℃/105℃時(shí),成品在1000小時(shí)內(nèi)的衰減。要求每4天(96小時(shí))測(cè)試一組數(shù)據(jù),作出衰減曲線圖。(注:此項(xiàng)目適用于大功率LED產(chǎn)品,要求單獨(dú)出具報(bào)告)

1000小時(shí)

5pcs/0.5m/<0.6m

破壞性試驗(yàn)

通斷電測(cè)試

電源/時(shí)間繼電器

在額定電壓供電條件下,使電源輸出通斷電,導(dǎo)通時(shí)間3min,斷開(kāi)時(shí)間0.5min。試驗(yàn)后,要求

24小時(shí)

3個(gè)成品單位

質(zhì)保中心實(shí)驗(yàn)室

過(guò)壓/欠壓測(cè)試

電壓
萬(wàn)用表

確認(rèn)產(chǎn)品的穩(wěn)定工作電壓,及電壓偏差±10%時(shí)

產(chǎn)品連續(xù)正常工作2h

3個(gè)成品單位

防水防塵測(cè)試

 

測(cè)試產(chǎn)品的IP等級(jí)。具體方法參見(jiàn)GB 4208-2008

 

3個(gè)成品單位

輸入/輸出短路測(cè)試

電源

確認(rèn)成品在額定輸入電壓下工作時(shí),輸入/輸出端短路狀態(tài)(測(cè)試電源必須帶短路保護(hù))

1分鐘

3個(gè)成品單位

導(dǎo)線連接處抗拉力測(cè)試

拉力計(jì)

用拉力計(jì)測(cè)試導(dǎo)線與產(chǎn)品連接處的抗拉力值。
燈帶:60N,持續(xù)1min;
模組:30N,持續(xù)1min;
試驗(yàn)后,要求導(dǎo)線與PCB/FPC連接處應(yīng)保證正常的機(jī)械、電氣連接;

 

5pcs/0.5m/<0.6m

質(zhì)保中心實(shí)驗(yàn)室

彎折性試驗(yàn)

工裝治具

將產(chǎn)品纏繞直徑為2cm的治具上,點(diǎn)亮,觀察表面膠體有無(wú)斷裂、翹起等現(xiàn)象。(本項(xiàng)目針對(duì)灌膠類柔性燈帶產(chǎn)品。)

168h

3個(gè)成品單位

極性保護(hù)測(cè)試

電源

輸入端正負(fù)極接反或接入交流。

3-5次

3個(gè)成品單位

耐酸性試驗(yàn)

14*14*8cm密封測(cè)試盒

將成品樣板放入密閉試驗(yàn)盒內(nèi),打成品四周打上玻璃膠。1分鐘內(nèi)密封好盒子。在室溫條件下存放24小時(shí)

24小時(shí)

5pcs/0.5m/<0.6m

鹽霧試驗(yàn)

鹽霧試驗(yàn)箱

氯化鈉濃度為:5±0.1%
(質(zhì)量百分比)

48小時(shí)

5pcs/0.5m/<0.6m

靜電放電試驗(yàn)

靜電放電發(fā)生器

4000-6000V

正負(fù)極性方向各3次

3個(gè)成品單位

應(yīng)用性測(cè)試

成品粘貼性測(cè)試

拉力計(jì)

將成品粘貼在樣品上,用拉力計(jì)從側(cè)面拉模組。記錄其最大可承受拉力值。

48h

——

研發(fā)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室

排燈方案測(cè)試

 

在樣板字里進(jìn)行排燈測(cè)試,測(cè)試出無(wú)暗區(qū)、色斑時(shí)的最大排燈距離。

 

——

 

認(rèn)證

 

在相關(guān)認(rèn)證機(jī)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試、認(rèn)證。(主要包括CE、UL、RoHS等,由產(chǎn)品策劃部與標(biāo)準(zhǔn)化中心界定認(rèn)證范圍)

 

3個(gè)成品單位

標(biāo)準(zhǔn)化中心

機(jī)械試驗(yàn)

振動(dòng)試驗(yàn)

機(jī)械振動(dòng)臺(tái)

振動(dòng)頻率:10~55~10Hz
振動(dòng)方向:垂直、水平方向振動(dòng)
升降頻率時(shí)間:30秒

每個(gè)方向循環(huán)4次

3個(gè)包裝成品單位

質(zhì)保中心實(shí)驗(yàn)室

堆碼測(cè)試

堆碼測(cè)試機(jī)


式中:M0-瓦楞紙箱上施加的堆碼中質(zhì)量,Kg
M1-單件包裝毛重:Kg
H-堆碼高度:m
h-瓦楞紙箱刻度:m
k-劣變系數(shù)(見(jiàn)注1)
H/h-取整數(shù)位 

 

根據(jù)計(jì)算數(shù)量要求

跌落試驗(yàn)

跌落試驗(yàn)臺(tái)

     

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